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JTAG バウンダリスキャンテスト セミナー


実践的な内容に、質疑応答が1時間近くになるほど盛り上がりました。JTAGテストで考慮すべき課題が実践経験をもとに紹介されたことが良かったかと思います。
 
JTAG バウンダリスキャンテストセミナー資料 LinkIcon
 
  ・基板上使用しない JTAGデバイスピンは、不良解析に上手く活用できる
  ・FPGAなどプログラマブルなデバイスの設定をクリアする (ブランクに)
  ・FPGA ごとの違いに注意
  ・FPGA にFlash書込み機能を持たせて高速プログラミングに活用できる
 
エレクトロニクス実装技術 11月号 特別レポート – JTAG バウンダリスキャンセミナー
 

 “容易なテスト生成、故障解析、高速フラッシュ書込みなどXJATG社の高い技術と先進的な取り組みに感心しました。また開発技術者から直接話しを聞けたのは素晴らしいことでした。” ‐富士通株式会社 ものづくり推進本部 シニアエキスパートエンジニアSEE、技術士(電気電子)  亀山修一様(バウンダリスキャンハンドブック の監訳者)


BGAなど高密度実装基板の検査・不良解析を電気的に行える唯一の手法として需要が高まる JTAGバウンダリスキャンテストのセミナーを開催します。 講師には、高度なソフトウエア技術でJTAGバウンダリスキャンテストに革新を起こした英国 XJTAG社の専門家を迎え、実装検査技術の必須課題となったJTAGテストの最新動向を知る絶好の機会です。ご多忙中とは存じますが、是非ご参加を賜りたく、以下にご案内申し上げます。
 


 ◇ 2013年9月27日(金) 午後1時30分~5時00分
 ◇参加費無料(事前登録制)  
 ◇会場: 秋葉原コンベンションホール 5F カンファレンスフロア 5A 
 ◇逐次通訳有り(質問は日本語で )
 
 
■内容: JTAGテストで検出される欠陥の、どこがどう壊れているのかを追求する方法など、実践的な活用例をご紹介します
 
 *JTAG バウンダリスキャンテストについて
 
 *プログラマブルなデバイスとJTAGテスト
 
  ・CPLDやFPGAのテストとプログラミング
  ・FPGA経由のフラッシュメモリ書き込みを高速化するテクニック
  ・デバイスのプログラミングによるテストカバレッジ向上
  ・プログラミング済みCPLD+BSDLファイルよりも
   空のCPLDのほうがテストに向いている理由
 
 *エラーの解析(JTAGの優位性と制限)

 
  ・JTAGバウンダリスキャンテストで解析可能・不可能な欠陥例
  ・DFT(デザインforテスト)解析により、JTAGを最大限に活用して
   テストカバレッジを改善する方法
 
 *JTAG テストツールのデモ、 Q&A 逐次通訳有り(質問は日本語でOK )
 
■お申し込み方法
 
 下記の内容をご記入の上、 LinkIconE-mail  にてお申し込みください。
 
 ” お名前、会社名、部署名、住所、電話、E-mailアドレス ”
 
■講師
 
Rob Humphrey is a Principal Hardware Engineer at XJTAG. He has a 1st Class electronic engineering degree from The University of York, UK, and over 5 years’ experience working for XJTAG. He previously worked in the network equipment industry as well as developing ICs for a range of products. At XJTAG he is responsible for the hardware and FPGA development of all XJTAG’s products and also provides consultancy services and the final level of technical support for customers.
 
Dr Bob Storey is a Principal Software Engineer at XJTAG. With a Ph.D from Cambridge University in electrical engineering and a background in electronics, he worked in the network equipment/security industry for 6 years before joining XJTAG. At XJTAG he is responsible for the on-going development of the automatic Connection Test and for XJTAG’s ability to understand and operate logic devices.
 
JTAGバウンダリスキャンテストについて
 
JTAG バウンダリスキャンテストの新常識 = XJTAG
 
 BGA など高密度実装基板の検査・不良解析を電気的に行えるJTAG バウンダリスキャンテストは、ソフトウエアによってJTAG デバイスの信号線をプローブとして操作・観測するためソフトウエア技術によって最大限に活かされます。
 
 XJTAG 社は高度なソフトウエア技術によって、バウンダリスキャンツールの使い勝手・容易性・再利用性に革新を起こしたパイオニアです。ツールや保守費は安く、テストプログラムの開発工数・費用も軽減され、保守・サポートも容易になり、JTAGバウンダリスキャンテストは設計・開発から製造・メンテナンスまで一貫して活用されるようになりました。



 顧客事例:Eaton社、他社ツールから乗換え
 
 有名なJTAGテストツールの制限に不満を感じ、Eaton社(世界最大級の総合産業用機器メーカー、米国イートン)のエンジニアは、XJTAG社製品に入れ替えた。
 
 XJTAGなら迅速かつ容易に理解することができて、便利なテストプロジェクトのセットアップ機能を提供し、テストコードの制御や製造検査機器との統合を可能にする。